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- EditorialCRC Press
- Año de publicación2019
- ISBN 10 0367400634
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- EncuadernaciónTapa blanda
- Número de edición1
- Número de páginas264
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High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
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Descripción Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ra. Nº de ref. del artículo: 594579592
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