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Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
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The Strain of Meeting (Selected Works of Wang Meng Volume I)
Publicado por Foreign Language Press, Beijing, 1989
Librería: Bookmarc's, La Porte, TX, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 13,29
Envío por EUR 4,95
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTrade Paperback. Condición: Very Good. Yaoyi, Shen Ilustrador. First Edition. BW2 - Book has light rubbing, crease on the gutters, lightly bumped on some corners, discoloration (browning), and light shelf wear otherwise very good. Stated First Edition 1989. Size: 8vo - over 7¾" - 9¾" tall.
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The Strain of Meeting: Selected Works of Wang Meng
Idioma: Inglés
Publicado por Foreign Languages Press, Beijing, China, 1989
ISBN 10: 0835122638 ISBN 13: 9780835122634
Librería: Goulds Book Arcade, Sydney, Newtown, Sydney, NSW, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 22,25
Envío por EUR 21,51
Se envía de Australia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Very Good. Shen Yaoyi Ilustrador. 382 pages. The cover has a little wear. The page edges are lightly tanned. Books listed here are not stored at the shop. Please contact us if you want to pick up a book from Newtown.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Singapore, 2022
ISBN 10: 9811931313 ISBN 13: 9789811931314
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,07
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 194,80
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 208,51
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 232,25
Envío por EUR 11,58
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 188 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 258,74
Envío por EUR 28,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritopaperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Criticise Lin Biao Criticise Confucius Campaign
Publicado por China, 1974
Librería: AntikBar Original Vintage Posters, London, UK, Reino Unido
Miembro de asociación: ABA ILAB
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Arte / Grabado / Póster
EUR 298,08
Envío por EUR 34,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoChen Yaoyi Ilustrador. Original vintage Chinese Communist propaganda poster - Learn from Lu Xun's revolutionary spirit and become a pioneer in criticising Lin Biao and Confucius / å¦ä é è¿çé å'½ç ¾ç¥ ä½æ ææ å"çé å° - featuring an illustration of a lady holding a book next to a worker with goggles on his head and a soldier in uniform holding papers titled Excerpts from Lu Xun's Criticism of Confucius and Mencius with an image of the Chinese writer, literary critic, lecturer and state servant Lu Xun (1881-1936) on the orange background, the text in red below. The political and intellectual Criticise Lin Biao, Criticise Confucius Campaign (1973-1976) started by the founder of the People's Republic of China PRC Mao Zedong (1893-1976) and the leader of the Gang of Four (1965/6-1976), Mao's fourth wife, the actress and Communist revolutionary Jiang Qing (1914-1991), was an academic attempt to interpret Chinese history; it ended with the arrest of Mao Zedong, his wife, and three other Chinese Communist Party CCP officials Zhang Chunqiao, Yao Wenyuan and Wang Hongwen. Horizontal. Fair condition, folds, tears, creasing, paper losses on edges, staining, large restored tear through image. Size: 77x106cm.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811931348 ISBN 13: 9789811931345
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimenta.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2022
ISBN 10: 9811931313 ISBN 13: 9789811931314
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimenta.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 200,46
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 201,78
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 219,37
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 220,77
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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