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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 13,58
Envío por EUR 4,83
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OBSERVATIONS OF DEFORMATION IN SPHERULITIC POLYETHYLENE (Pamphlet)
Publicado por J Applied Physics, 1970
Librería: Larry W Price Books, Portland, OR, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Revista / Publicación
EUR 6,25
Envío por EUR 4,35
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPamphlet. Condición: Very Good. Vol 41, No 11, pp. 4342-4346, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, else VG.
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DISLOCATIONS CAUSED BY CHAIN ENDS IN CRYSTALLINE POLYMERS (Pamphlet)
Publicado por J Applied Physics, 1966
Librería: Larry W Price Books, Portland, OR, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Revista / Publicación
EUR 7,15
Envío por EUR 4,35
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPamphlet. Condición: Very Good. Vol 37, No 11, pp. 4053-4059, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 22,63
Envío por EUR 4,83
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 22,63
Envío por EUR 4,83
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis, Volume 32
Librería: BookDepart, Shepherdstown, WV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 22,67
Envío por EUR 7,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping on front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good condition with clean text, firm binding. Dust jacket shows light scuffing and shelf wear.
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Advances in X-Ray Analysis, Volume 29
Librería: BookDepart, Shepherdstown, WV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 22,67
Envío por EUR 7,42
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; fade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm binding. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 49,78
Envío por EUR 4,83
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Advances In X - Ray Analysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,48
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ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Advances In X - Ray Analysis
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 69,18
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 28
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,69
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,69
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,57
Envío por EUR 17,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 28
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,27
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,20
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334 1st Edition.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 72,08
Envío por EUR 7,54
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 72,34
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 82,65
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 412 Index.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 87,15
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 648.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 38
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,51
Envío por EUR 3,95
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Advances In X-Ray Analysis
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,83
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Edición internacionalAdvances In X-Ray Analysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,23
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,99
Envío por EUR 13,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis | Volume 28
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,25
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 28 | Paul K. Predecki (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781461294993 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,35
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 119,25
Envío por EUR 7,54
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 124,27
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 28
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1461294991 ISBN 13: 9781461294993
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,97
Envío por EUR 63,86
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,89
Envío por EUR 65,50
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
