Overhauser david (39 resultados)

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Paperback. Condición: As New. No Jacket. Pages are clean and are not marred by notes or folds of any kind. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.

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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, Norwell, Massachusetts, U.S.A. 1995
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- Primera edición
Librería: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Reino UnidoPsychoBabel & Skoob Books
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hardcover. Condición: Very Good. No Dust Jacket. First Edition. White hardcover with white lettering on spine and upper board and contents in very good clean condition, showing minimal signs of wear. Previous owner's name on FEP. Profusely illustrated by diagrams and tables. No dust jacket. T. Used.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science; 66. VLSI, Computer Architecture and Digital Signal Processing)
Rao, Vasant; Overhauser, David; Trick, Timothy; Hajj, Ibrahim
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, Norwell, Massachusetts, U.S.A. 1989
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Reino UnidoPsychoBabel & Skoob Books
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hardcover. Condición: Very Good. No Dust Jacket. First Edition. White hardcover with black lettering on spine and upper board and contents in very good clean condition, showing minimal signs of wear. Previous owner's name on FEP. Profusely illustrated by diagrams and tables. No dust jacket. T. Used.

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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Editorial: Kluwer Academic Publishers 1995 1995
Librería: Wonderland Books, Berkeley, CA, Estados Unidos de AmericaWonderland Books
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EUR 22,54
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ed. hardback very good condition with a pen name on the free front end page- no dust jacket.

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Hardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.

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Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
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EUR 29,97
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Condición: New. Über den AutorDavid Overhauser, Ph.D., began working with startups in 1980. He has been involved in over 20 startups in a variety of roles over 35 years, including engineer, Vice President, Founder, Board Member, investor, co.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 66)
Rao, Vasant B.; Overhauser, David V.; Trick, Timothy N.; Hajj, Ibrahim N.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,69
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Condición: New. In.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 66)
Rao, Vasant B.; Overhauser, David V.; Trick, Timothy N.; Hajj, Ibrahim N.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,69
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Condición: New. In.

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Librería: Buchpark, Trebbin, , AlemaniaBuchpark
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 292 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-tim…ing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels. The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques.

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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 144,47
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Condición: New. pp. 224.

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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 145,63
Envío por EUR 3,49Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 224.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits
Vasant B. Rao|David V. Overhauser|Timothy N. Trick|Ibrahim N. Hajj
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Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
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EUR 118,64
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Only two decades ago most electronic circuits were designed with a slide-rule, and the designs were verified using breadboard techniques. Simulation tools were a research curiosity and in general were mistrusted by most designers and test engineers. In thos.

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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 164,60
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Condición: New. In.

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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 164,60
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Condición: New. In.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits
Vasant B. Rao|David V. Overhauser|Timothy N. Trick|Ibrahim N. Hajj
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
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EUR 127,59
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Only two decades ago most electronic circuits were designed with a slide-rule, and the designs were verified using breadboard techniques. Simulation tools were a research curiosity and in general were mistrusted by most designers and test engineers. In thos.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 66)
Rao, Vasant B., Overhauser, David V., Trick, Timothy N., Haj
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 185,08
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 213,59
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Condición: New. pp. 294 Index.

Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (66))
Rao, Vasant B., Overhauser, David V., Trick, Timothy N., Haj
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 185,08
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Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 215,16
Envío por EUR 3,49Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 292 Index.

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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 167,14
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing,… switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels. The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques.

- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 235,23
Envío por EUR 28,98Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: Like New. Like New. book.

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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 260,31
Envío por EUR 28,98Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

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Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
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- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
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Envío por EUR 7,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 224 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.

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- Impresión bajo demanda
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Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 224.