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Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Publicado por Plenum Press, New York, NY, 1969
Librería: Book Bear, West Brookfield, MA, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: SNEAB
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 8,59
Envío por EUR 4,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCloth. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. 194 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. Owner's name stamp on front end paper. Light foxing top fore-edge.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 5,55
Envío por EUR 16,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoSoftcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Couverture différente. Edition 1969. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Different cover. Edition 1969. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Publicado por Plenum Press, 1969
Librería: Mythos Center Books, Frontenac, MN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 17,67
Envío por EUR 3,86
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Used: Very Good. 1st ed. Cloth, 194pp, vg. Progress In Analytical Chemistry, Volume 2.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Publicado por Plenum Publishing, 1969
Librería: George Cross Books, Lexington, MA, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 20,33
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. First ition edition. Good/Good (23493) - Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. damps stain, some lt edgwr. chip at top fr. 194.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (Progress in Analytical Chemistry)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,86
Envío por EUR 13,81
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,64
Envío por EUR 17,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPF. Condición: New.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 72,22
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 208.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,28
Envío por EUR 11,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.01x5.98x0.44 inches. In Stock.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,25
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Physical Measurement and Analysis of Thin Films | E. M. Murt | Taschenbuch | Progress in Analytical Chemistry | xi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781489959126 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,39
Envío por EUR 61,55
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
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The Definitive Guide Hadoop YARN(Chinese Edition)
Idioma: Chino
Publicado por Machinery Industry Press, 2015
ISBN 10: 7111491815 ISBN 13: 9787111491811
Librería: liu xing, Nanjing, JS, China
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,72
Envío por EUR 15,44
Se envía de China a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritopaperback. Condición: New. Language:Chinese.The Definitive Guide Hadoop YARN.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 46,22
Envío por EUR 5,50
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 70,44
Envío por EUR 7,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 208 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 208 pp. Englisch.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 71,95
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 208.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 48,37
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Springer Book Archives.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
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