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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

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    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 308 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of ¿defect engineering¿. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. ¿Charged Defects in Semiconductors¿ details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Editorial: Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer Verlag, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London Okt 2010, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of 'defect engineering'. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. 'Charged Defects in Semiconductors' details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters. 308 pp. Englisch.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London Dez 2008, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London, 2010

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    Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Details the current state of knowledge regarding the properties of ionized defects in advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensorsEdmund Seebauer is currently Head of Chemical and Biomolecular Engineering.…

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    Editorial: Springer London, 2008

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London, Springer Dez 2008, 2008

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    Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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    Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of ¿defect engineering¿. For example, in the bulk, charging significantly affects the total concentration of defects that are available to mediate phenomena such as solid-state diffusion. Surface defects play an important role in mediating surface mass transport during high temperature processing steps such as epitaxial film deposition, diffusional smoothing in reflow, and nanostructure formation in memory device fabrication. ¿Charged Defects in Semiconductors¿ details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors. Features: group IV, III-V, and oxide semiconductors; intrinsic and extrinsic defects; and, point defects, as well as defect pairs, complexes and clusters.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 308 pp. Englisch.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer London, Springer London Okt 2010, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Editorial: Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

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    Condición: New. Print on Demand pp. 310 90 Illus.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Condición: New. Print on Demand pp. 310 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    1849968209 / 9781849968201

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    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

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    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 310.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2008

    1848820585 / 9781848820586

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    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 310.