Charged Semiconductor Defects : Structure, Thermodynamics and Diffusion

Seebauer, Edmund G.; Kratzer, Meredith C.

ISBN 10: 1848820585 ISBN 13: 9781848820586
Editorial: Springer, 2008
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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