Martino catello (32 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 198,14
Envío por EUR 17,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 198,60
Envío por EUR 17,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 215,39
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 220,43
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 226,63
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 227,01
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 232,60
Envío por EUR 2,68Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 232,60
Envío por EUR 2,68Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 228,34
Envío por EUR 13,48Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 228,34
Envío por EUR 13,48Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 167,00
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. System Dependability and Analytics | Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives | Long Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Reliability Engineering | xi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783031020650 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 231,83
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 231,44
Envío por EUR 17,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 231,44
Envío por EUR 17,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing AG, CH, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 257,85
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. 2023 ed. This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students. …

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 218,37
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 282,48
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2023 edition NO-PA16APR2015-KAP.

System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 285,81
Envío por EUR 14,93Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 444 pages. 9.25x6.10x1.38 inches. In Stock.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 287,93
Envío por EUR 14,93Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 444 pages. 9.25x6.10x1.00 inches. In Stock.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 300,15
Envío por EUR 9,37Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing AG, CH, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 252,57
Envío por EUR 77,61Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. 2023 ed. This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students. …

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 150,28
Envío por EUR 6,80Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 150,28
Envío por EUR 8,00Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing AG, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 210,99
Envío por EUR 5,99Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
PAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 217,83
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 162,51
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Collects the state-of-the-art research on dependability and analyticsIncludes the latest resulting from approaching system dependability from data, system and analytics perspectivesIs contributed to many internationally recognized experts.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 162,51
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Collects the state-of-the-art research on dependability and analyticsIncludes the latest resulting from approaching system dependability from data, system and analytics perspectivesIs contributed to many internationally recognized experts.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing Jul 2023, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 192,59
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students. 448 pp. Englisch.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Jul 2023, 2023
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 192,59
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008¿2011. The book contains chapters written by many of his former students.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 448 pp. Englisch.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Jul 2022, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 192,59
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008¿2011. The book contains chapters written by many of his former students.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 448 pp. Englisch.…