Athreya arjun edt (4 resultados)
System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa dura
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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