Athreya arjun editor (1 resultados)
System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
Serie: Springer Series in Reliability Engineering, Libro 79 de 90. Libro 79 de 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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