Jenkins ms ron (15 resultados)
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Librería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de AmericaWorld of Books (was SecondSale)
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Paperback. Condición: Very Good.
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EUR 16,12
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Paperback. Condición: Good.
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EUR 17,96
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Paperback. Condición: Good.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 37
Noyan, I C; Gilfrich; Huang, T C; Goldsmith, Charles C; Gilfrich, J V; Gilfrich, John V; Goldsmith, C C; Huang, Ting C; Jenkins MS, Ron; Noyan, I Cev
- Tapa dura
Librería: BooksRun, Philadelphia, PA, Estados Unidos de AmericaBooksRun
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EUR 56,89
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Condición: Used. pp. 778 1st Edition.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: Used. pp. 778.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In English.
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: Used. pp. 778.
Advances in X-ray Analysis
Gilfrich, John V.|Goldsmith, C. C.|Huang, Ting C.|Jenkins, Ron|Noyan, I. Cev
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 104,46
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. 89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction .
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 784 pages. 10.25x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Envío por EUR 46,07Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - 89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.…
- Tapa dura
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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EUR 111,11
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