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Integrated Circuit Test Engineering
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 50,23
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxx + 362.
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Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,17
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 99,24
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Springer London 2010-06-02, 2010
ISBN 10: 1846280230 ISBN 13: 9781846280238
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,62
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,87
Envío por EUR 6,11
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,90
Envío por EUR 60,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Sehr gut. Gebraucht - Sehr gut - ungelesen,als Mängelexemplar gekennzeichnet, mit leichten Mängeln an Schnitt oder Einband durch Lager- oder Transportschaden Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 392 pp. Englisch.
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Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc, 2005
ISBN 10: 1846280230 ISBN 13: 9781846280238
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 142,93
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 362 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Springer London, Springer, 2005
ISBN 10: 1846280230 ISBN 13: 9781846280238
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,94
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
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Integrated Circuit Test Engineering
Idioma: Inglés
Publicado por Springer London Aug 2005, 2005
ISBN 10: 1846280230 ISBN 13: 9781846280238
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,29
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 396 pp. Englisch.
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Integrated Circuit Test Engineering
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,44
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Using the book and the software provided with it, the reader can build his/her own tester arrangement to investigate key aspects of analog-, digital- and mixed system circuits  Plan of attack based on traditional testing, circuit desig.
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Integrated Circuit Test Engineering
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Aug 2005, 2005
ISBN 10: 1846280230 ISBN 13: 9781846280238
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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