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Edición internacionalOptoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Idioma: Inglés
Publicado por Mississauga, ON, Canada: John Wiley & Sons Canada, Limited, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Librería: Sizzler Texts, SAN GABRIEL, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,31
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Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. Estado de la sobrecubierta: New. 1st Edition. **International edition** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service.
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Edición internacional
Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley-Blackwell (an imprint of John Wiley & Sons Ltd), Chicester, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Librería: Aideo Books, San Marino, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,19
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Añadir al carritoTrade paperback. Condición: New in new dust jacket. First edition. ***INTERNATIONAL EDITION*** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service. 312 p. Audience: Professional and scholarly.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 121,38
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 108,32
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 116,57
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Idioma: Inglés
Publicado por SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Librería: Rarewaves USA, OSWEGO, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,49
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,33
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,46
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications: 252 (International Series in Operations Research & Management Science)
Libro 242 de 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 137,40
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Añadir al carritoCondición: New. Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 de 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,53
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Idioma: Inglés
Publicado por SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,75
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,73
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,54
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 144,88
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,50
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Modeling And Parameter Extraction Techniques Of Silicon-based Radio Frequency Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,93
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 168,53
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 de 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,11
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,72
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era | Theory and Applications
Libro 242 de 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,15
Envío por EUR 70,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era | Theory and Applications | Tsan-Ming Choi (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319851716 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Idioma: Inglés
Publicado por SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Librería: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,49
Envío por EUR 43,06
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetics and Radar)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,20
Envío por EUR 28,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,92
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Über den AutorrnrnJianjun Gao received the B.Eng. and Ph.D. degrees from the Tsinghua University, and M. Eng. Degree from Hebei Semiconductor Research Institute. From 1999 to 2001, he was a Post-Doctoral Research Fellow at the Microelect.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 183,22
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era : Theory and Applications
Libro 242 de 323: International Series in Operations Research & Management ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319851713 ISBN 13: 9783319851716
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Envío por EUR 62,23
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. It examines the scientific innovations in optimization, control and resilience management that can be applied to further success. In both business operations and engineering applications, there are huge amounts of data that can overwhelm computing resources of large-scale systems. This 'big data' provides new opportunities to improve decision making and addresses risk for individuals as well in organizations. While utilizing data smartly can enhance decision making, how to use and incorporate data into the decision making framework remains a challenging topic. Ultimately the chapters in this book present new models and frameworks to help overcome this obstacle.Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications is divided into five parts. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Part III provides novel insights and new findings in the area of financial optimization analysis. The chapters in Part IV deal with operations analysis, covering flow-shop operations and quick response systems. The book concludes with final remarks and a look to the future of big data related optimization and control problems.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Pub Co Inc, 2023
ISBN 10: 9811255350 ISBN 13: 9789811255359
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,32
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 350 pages. 9.25x6.26x0.94 inches. In Stock.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,67
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 339 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 182,39
Envío por EUR 17,34
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,29
Envío por EUR 17,34
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 179,78
Envío por EUR 28,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
