Duin robert p (35 resultados)
Classification, Parameter Estimation and State Estimation: An Engineering Approach Using MATLAB
Van Der Heijden, Ferdinand; Duin, Robert P.; De Ridder, Dick; Tax, David M. J.
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Caelli, Terry|Amin, Adnan|Duin, Robert P.W.|Kamel, Mohamed|Ridder, Dick de
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Condición: New. This volume contains all papers presented at SSPR 2002 and SPR 2002 hosted by the University of Windsor, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002. This was the third time these two workshops were held back-to-back. SSPR was the ninth International Worksho.
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 863 pages. 9.50x6.00x1.25 inches. In Stock.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This volume contains all papers presented at SSPR 2002 and SPR 2002 hosted by the University of Windsor, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002. This was the third time these two workshops were held back-to-back. SSPR was the ninth International Workshop on Structural and Syntactic Patt…ern Recognition and the SPR was the fourth International Workshop on Statis- cal Techniques in Pattern Recognition. These workshops have traditionally been held in conjunction with ICPR (International Conference on Pattern Recog- tion), and are the major events for technical committees TC2 and TC1, resp- tively, of the International Association of Pattern Recognition (IAPR). The workshops were held in parallel and closely coordinated. This was an attempt to resolve the dilemma of how to deal, in the light of the progressive specialization of pattern recognition, with the need for narrow-focus workshops without further fragmenting the eld and introducing yet another conference that would compete forthe time and resources of potential participants. A total of 116 papers were received from many countries with the submission and reviewingprocesses beingcarried out separately for each workshop. A total of 45 papers were accepted for oral presentation and 35 for posters. In addition four invited speakers presented informative talks and overviews of their research. They were: Tom Dietterich, Oregon State University, USA Sven Dickinson, the University of Toronto, Canada Edwin Hancock, University of York, UK Anil Jain, Michigan State University, USA SSPR 2002 and SPR 2002 were sponsored by the IAPR and the University of Windsor.
- Tapa blanda
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Condición: New. pp. 1196.
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Condición: New. Invited Talks.- Finding Clusters and Components by Unsupervised Learning.- Kernel Methods for Exploratory Pattern Analysis: A Demonstration on Text Data.- The Use of Graph Techniques for Identifying Objects and Scenes in Indoor Building Environments for Mob.
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 1168 pages. German language. 9.50x6.25x1.50 inches. In Stock.
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Hardcover. Condición: Brand New. illustrated edition. 636 pages. 9.50x6.75x1.50 inches. In Stock.
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Condición: New.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This volume contains all papers presented at SSPR 2004 and SPR 2004, hosted by the Instituto de Telecomunicac oes/Instituto Superior T ecnico, Lisbon, Portugal, August 18 20, 2004. This was the fourth time that the two workshops were held back-to-back. The SSPR was the tenth International W…orkshop on Structural and Synt- tic Pattern Recognition, and the SPR was the fth International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition. These workshops have traditi- ally been held in conjunction with ICPR (International Conference on Pattern Recognition), and are the major events for technical committees TC2 and TC1, respectively, of the International Association for Pattern Recognition (IAPR). The workshops were closely coordinated, being held in parallel, with plenary talks and a common session on hybrid systems. This was an attempt to resolve thedilemmaofhowto dealwiththeneedfornarrow-focusspecializedworkshops yet accommodate the presentation of new theories and techniques that blur the distinction between the statistical and the structural approaches. A total of 219 papers were received from many countries, with the subm- sion and reviewing processes being carried out separately for each workshop. A total of 59 papers were accepted for oral presentation and 64 for posters. In - dition, four invited speakers presented informative talks and overviews of their research. They were: Alberto Sanfeliu, from the Technical University of Cata- nia, Spain; Marco Gori, from the University of Siena, Italy; Nello Cristianini, from the University of California, USA; and Erkki Oja, from Helsinki University of Technology, Finland, winner of the 2004 Pierre Devijver Award.
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Gebunden. Condición: New. Provides an approach to pattern recognition in which objects are characterized by relations to other objects instead of by using features or models. This book is intended for researchers and systems designers studying or developing pattern recognition syste.
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company Dez 2005 2005
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EUR 330,62
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Buch. Condición: Neu. Neuware - This book provides a fundamentally new approach to pattern recognition in which objects are characterized by relations to other objects instead of by using features or models. This 'dissimilarity representation' bridges the gap between the traditionally opposing approaches of statistical and struc…tural pattern recognition. Physical phenomena, objects and events in the world are related in various and often complex ways. Such relations are usually modeled in the form of graphs or diagrams. While this is useful for communication between experts, such representation is difficult to combine and integrate by machine learning procedures. However, if the relations are captured by sets of dissimilarities, general data analysis procedures may be applied for analysis. With their detailed description of an unprecedented approach absent from traditional textbooks, the authors have crafted an essential book for every researcher and systems designer studying or developing pattern recognition syste.
