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Ultra Large Scale Integration Science & Technology: 6th International Symposium
Idioma: Inglés
Publicado por Electrochemical Society, Pennington, New Jersey, U.S.A., 1997
ISBN 10: 1566771307 ISBN 13: 9781566771306
Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750318376 ISBN 13: 9780750318372
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects In Germanium: Fundamental And Technological Aspects (springer Series In Materials Science)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750318376 ISBN 13: 9780750318372
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: 3rd St. Books, Lees Summit, MO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, 2016
ISBN 10: 0750312734 ISBN 13: 9780750312738
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: moluna, Greven, Alemania
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science 2007-03-23, 2007
ISBN 10: 0080449530 ISBN 13: 9780080449531
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science, 118)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 185 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,86
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,86
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Extended Defects in Germanium : Fundamental and Technological Aspects
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,61
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 324 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,56
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Añadir al carritoCondición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As semiconductor devices move to the nanoscale, random telegraph signals have become an issue of major concern to the semiconductor industry. This book aims to provide a comprehensive and up-to-date review of one of the most challenging issues facing the semiconductor industry, from the fundamentals of random telegraph signals to applied technology.
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Germanium-Based Technologies
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 190,54
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoCondición: New. pp. xxiv + 449.
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Extended Defects in Germanium
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 210,24
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Añadir al carritoCondición: New. pp. xx + 297 1st Edition.
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science (270))
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 221,35
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 471.
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact: 270 (Springer Series in Materials Science)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 225,43
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Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Fundamental and Technological Aspects of Extended Defects in Germanium
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag Berlin And Heidelberg Gmbh & Co. Kg, 2009
ISBN 10: 3540856110 ISBN 13: 9783540856115
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 232,49
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 320 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 240,80
Envío por EUR 11,55
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 317 pages. 9.25x6.10x0.76 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science (118))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,27
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