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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices (IOP Expanding Physics) - Tapa dura
Libro 16 de 72: IOP Expanding Physics
Sinopsis
As semiconductor devices move to the nanoscale, random telegraph signals have become an issue of major concern to the semiconductor industry. This book aims to provide a comprehensive and up-to-date review of one of the most challenging issues facing the semiconductor industry, from the fundamentals of random telegraph signals to applied technology.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices (Iop Expanding Physics)
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IOP Publishing Ltd Nov 2016, 2016
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Buch. Condición: Neu. Neuware - Following their first observation in 1984, random telegraph signals (RTS) were initially a purely scientific tool to study fundamental aspects of defects in semiconductor devices. As semiconductor devices move to the nanoscale however, RTS have become an issue of major concern to the semiconductor industry, both in the development of current technology, such as memory devices and logic circuits, as well as in future semiconductor devices beyond the silicon roadmap, such as nanowire, TFET and carbon nanotube-based devices. It has become clear that the reliability of state-of-the-art and future CMOS technology nodes is dominated by RTS and single-trap phenomena, and so its understanding is of vital importance for the modelling and simulation of the operation and the expected lifetime of CMOS devices and circuits. It is the aim of this book to provide a comprehensive and up-to-date review of one of the most challenging issues facing the semiconductor industry, from the fundamentals of RTS to applied technology. Nº de ref. del artículo: 9780750312738
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