Bley dennis (38 resultados)
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Condición: Used. pp. 396 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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Condición: New.
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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EUR 60,60
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Condición: New.
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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Condición: New.
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholar…ly; (UU) Undergraduate. Dimension: 240 x 160 x 20. Weight in Grams: 630. . 2003. Softcover reprint of the original 1st ed. 2003. paperback. . . . .
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)
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EUR 67,21
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 81,99
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Condición: New. pp. 396, Maps.
Risk Methodologies for Technological Legacies
. Ed(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G.
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EUR 75,56
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate,…Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 244 x 170 x 22. Weight in Grams: 1610. . 2003. Hardback. . . . .
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EUR 85,70
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholar…ly; (UU) Undergraduate. Dimension: 240 x 160 x 20. Weight in Grams: 630. . 2003. Softcover reprint of the original 1st ed. 2003. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 400 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Risk Methodologies for Technological Legacies
. Ed(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G.
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EUR 92,93
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000 Editor(s): Bley, Dennis; Eremenko, Vitaly A.; Droppo, James G. Series: NATO Science Series IV. Num Pages: 366 pages, biography. BIC Classification: GPQD; KJMD; RN. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate,…Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 244 x 170 x 22. Weight in Grams: 1610. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Cold War Era left the major participants, the United States and the former Soviet Union (FSU), with large legacies in terms of both contamination and potential accidents. Facility contamination and environmental degradation, as well as the acci…dent vulnerable facilities and equipment, are a result of weapons development, testing, and production. Although the countries face similar issues from similar activities, important differences in waste management practices make the potential environmental and health risks of more immediate concern in the FSU and Eastern Europe. In the West, most nuclear and chemical waste is stored in known contained locations, while in the East, much of the equivalent material is unconfined, contaminating the environment. In the past decade, the U.S. started to address and remediate these Cold War legacies. Costs have been very high, and the projected cost estimates for total cleanup are still increasing. Currently in Russia, the resources for starting such major activities continue to be unavailable.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 59,97
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Cold War Era left the major participants, the United States and the former Soviet Union (FSU), with large legacies in terms of both contamination and potential accidents. Facility contamination and environmental degradation, as well as the accident vu…lnerable facilities and equipment, are a result of weapons development, testing, and production. Although the countries face similar issues from similar activities, important differences in waste management practices make the potential environmental and health risks of more immediate concern in the FSU and Eastern Europe. In the West, most nuclear and chemical waste is stored in known contained locations, while in the East, much of the equivalent material is unconfined, contaminating the environment. In the past decade, the U.S. started to address and remediate these Cold War legacies. Costs have been very high, and the projected cost estimates for total cleanup are still increasing. Currently in Russia, the resources for starting such major activities continue to be unavailable.
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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EUR 135,15
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Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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EUR 123,83
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 114,22
Envío por EUR 29,18Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Risk Methodologies for Technological Legacies
Bley, Dennis C. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Droppo, James G.
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EUR 144,89
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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Condición: New. Print on Demand pp. 396 Illus., Maps.
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Hardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
