Biggio battista (54 resultados)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
- Tapa blanda
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018-08-02, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
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Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
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Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Condición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Nature New York Inc, 2021
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Paperback. Condición: Brand New. 390 pages. 9.25x6.10x0.94 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 1719, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Bai, Xiao (Editor) / Hancock, Edwin R. (Editor) / Ho, Tin Kam (Editor) / Wilson, Richard C. (Editor) / Biggio, Battista (Editor) / Robles-Kelly, Antonio (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 540 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2020, held in Padua, Italy, in January 2021.The 35 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 81 submissions.The accepted papers cover the major topics of current interest in pattern recognition, including classification and clustering, deep learning, structural matching and graph-theoretic methods, and multimedia analysis and understanding.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of theJoint IAPR International Workshop onStructural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018.The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods.…
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on StructuralSyntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2016, consisting of the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The 51 full papers presented were carefully reviewed and selected from 68 submissions. They are organized in the following topical sections: dimensionality reduction, manifold learning and embedding methods; dissimilarity representations; graph-theoretic methods; model selection, classification and clustering; semi and fully supervised learning methods; shape analysis; spatio-temporal pattern recognition; structural matching; text and document analysis.…
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Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings | Antonio Robles-Kelly (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Computer Science | xiii | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319490540 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Proceedings | Andrea Torsello (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Computer Science | xii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030739720 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
