Antonio robles kelly (72 resultados)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
- Tapa blanda
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018-08-02, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
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Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
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Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Editorial: Springer, 2018
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Condición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Nature New York Inc, 2021
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Bai, Xiao (Editor) / Hancock, Edwin R. (Editor) / Ho, Tin Kam (Editor) / Wilson, Richard C. (Editor) / Biggio, Battista (Editor) / Robles-Kelly, Antonio (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Proceedings | Andrea Torsello (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Computer Science | xii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030739720 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 25 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 25 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 25 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 130,09
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