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Similarity-Based Pattern Recognition: First International Workshop, Simbad 2011, Venice, Italy, September 28-30, 2011, Proceedings
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc, 2011
ISBN 10: 364224470X ISBN 13: 9783642244704
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,48
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2011 edition. 332 pages. 9.00x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Mathematics of Surfaces 13: 13th Ima International Conference York, Uk, September 7-9, 2009 Proceedings: Vol 5654
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc, 2009
ISBN 10: 3642035957 ISBN 13: 9783642035951
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,31
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 409 pages. 9.20x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 1719, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Libro 18 de 300: Lecture Notes in Computer ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,37
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 540 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition: Second International Workshop, EMMCVPR'99, York, UK, July 26-29, 1999, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science, 1654)
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,07
Envío por EUR 6,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010, Proceedings
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc, 2010
ISBN 10: 3642149790 ISBN 13: 9783642149795
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,01
Envío por EUR 17,34
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 773 pages. 9.30x6.10x1.20 inches. In Stock.
