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Stay Young: Reduce Your Rate of Aging
Publicado por Amer Universities Science &, 1986
Librería: Book Alley, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 6,21
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Very Good. Very Good. Lightly used, may have publisher's or previous owner's markings but NO markings in text. Pasadena's finest new and used bookstore.
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Particulate Science and Technology
Idioma: Inglés
Publicado por Chemical Publishing Co., Inc., New York:, 1980
ISBN 10: 082060254X ISBN 13: 9780820602547
Librería: About Books, Henderson, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 14,15
Envío por EUR 5,99
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good condition. Estado de la sobrecubierta: No jacket. First Edition. New York:: Chemical Publishing Co., Inc., 1980. A solid reading/reference copy. Cover has light wear/rubbing to corners and spine ends. Inner hinges are perfectly sound. WITHDRAWN stamp, and a few other library markings. Pages are clean. NO underlining. NO highlighting. NO margin notes. Illustrated with many figures and a few highly magnified photographs. Numerous tables. Graphs. Contains a Preface, Introduction, and eight major sections, as follows: 1) In the scheme of things; 2) The single particle; 3) The formation and production of particulates; 4) The processing and handling of particulate matter; 5) Description of particulate assemblies; 6) Fine particle characterization; 7) Physical-chemical properties; 8) Hazards. Bibliographical references. Author Index. Subject Index. Bound in the original maroon boards, lettered in shiny gold on the spine and front cover. First Edition. Hard Cover. Very Good condition./No jacket. 8vo. xviii, 725pp. [743 total pages].
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Advanced Particulate Morphology
Idioma: Inglés
Publicado por CRC Press, Inc. Boca Raton, FL 1977, 1980
ISBN 10: 0849357810 ISBN 13: 9780849357817
Librería: Bear Bookshop, John Greenberg, Brattleboro, VT, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 35,72
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Añadir al carrito187pp. 8vo Illustrated in black and white Black cloth of Fine Particle Science and Technology Series. Contributions by Robert Ehrlich, P Jeffrey Brown, Jeffrey M Yarus, Duante T Eppler, James C Bezdek, G Robert Redinbo, Julius T Tou, Keishi Gotoh, and the editors. Near Fine/no dj 0-8493-5781-0.
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Particle Characterization in Technology: Vol. 1: Applications and Microanalysis (CRC series on fine particle science and technology)
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,49
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Añadir al carritoCondición: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Tuesday, May 26 (holiday SALE item)* volume one, 246 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,82
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Particle Characterization in Technology, Vol. 2: Morphological Analysis
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,43
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Image Analysis Sourcebook
Idioma: Inglés
Publicado por Amer Univ Science & Tech Pr, 1997
ISBN 10: 096175317X ISBN 13: 9780961753177
Librería: Webster's Bookstore Cafe, Inc., State College, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,37
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Añadir al carritotextbook. Condición: Very Good. Former owners name on ffep. Light shelf wear. Else clean and tight.
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Image Analysis Sourcebook
Idioma: Inglés
Publicado por American Universities Sicence and Technology Press, Santa Barbara, California, U.S.A., 1997
ISBN 10: 096175317X ISBN 13: 9780961753177
Librería: BookOrders, Russell, IA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 70,99
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Añadir al carritoHard Cover. Condición: Good. No Jacket. The interior is clean and tight. Binding is good. Cover is good. 390 pages including index.
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![Imagen del vendedor de Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ]. a la venta por Emile Kerssemakers ILAB](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31955007203.jpg)
Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ].
Idioma: Inglés
Publicado por CRC Press, Inc., Boca Raton, Florida, 1985
ISBN 10: 0849357845 ISBN 13: 9780849357848
Librería: Emile Kerssemakers ILAB, Heerlen, Holanda
Miembro de asociación: ILAB NVVA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,00
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Añadir al carrito2 vols. Original hardcovers. xviii,246 pp. & xviii,266 pp.; ills.; 26x18 cm. " Uniscience Series on Fine Particle Science and Technology " Text in English. - (trace of removed label on spines, stamp on endpapers, small signs of use) Although (very) good, see picture 1820g.
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Particle Characterization in Technology, Vol. 1: Applications and Microanalysis
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,64
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Particle Characterization in Technology, Vol. 2: Morphological Analysis
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,73
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Particulate Systems: Technology and Fundamentals
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 100,18
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Advanced Particulate Morphology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,81
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Particle Characterization in Technology, Vol. 1: Applications and Microanalysis
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 221,83
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Advanced Particulate Morphology
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 209,56
Envío por EUR 17,37
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Advanced Particulate Morphology (Fine Particle Science and Technology)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 220,45
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced Particulate Morphology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 225,85
Envío por EUR 2,27
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Advanced Particulate Morphology (Fine Particle Science and Technology)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 231,87
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Particle Characterization in Technology : Application and Microanalysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,73
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Advanced Particulate Morphology
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 231,18
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Particle Characterization in Technology : Application and Microanalysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 244,31
Envío por EUR 17,37
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Beddow, J: Advanced Particulate Morphology
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 204,59
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. John Keith BeddowThis volume, based on the 1977 NSF Residential Advanced Particle Morphology Workshop, covers the principle developments in this new and rapidly evolving field. The divergent fields of interst of the authors reflect the prosepcts for the.
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Particle Characterization in Technology: Volume I: Application and Microanalysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 259,11
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Particle Characterization in Technology : Application and Microanalysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 264,49
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Advanced Particulate Morphology (Fine Particle Science and Technology)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 246,65
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Particle Characterization in Technology : Application and Microanalysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 251,54
Envío por EUR 17,37
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Particle Characterization in Technology: Volume I: Application and Microanalysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 267,47
Envío por EUR 3,44
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Particle Characterization in Technology: Volume I: Application and Microanalysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 290,21
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Advanced Particulate Morphology
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Ltd Nov 2017, 2017
ISBN 10: 1315890445 ISBN 13: 9781315890449
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 252,38
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
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Beddow: Particle Characterization in Technology
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 211,74
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. John Keith Beddow Professor of Chemicals and Materials Engineering, Division of Materials Engineering, University of Iowa.Volume I present an important exposition of some of the most significant areas where particle characterization is applied. The .
