Privacy vulnerabilities data security (32 resultados)
Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New.
Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (Editor)/ Makkar, Sandhya (Editor)/ Tran, Duc-tan (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Pr I Llc, 2024
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 234 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press 2020-10-28, 2020
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Hardcover. Condición: New.
Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the IoT
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the IoT
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the IoT
Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
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Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 213,03
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2020
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Agarwal, Shivani (EDT); Makkar, Sandhya (EDT); Tran, Duc-tan (EDT)
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Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Editorial: Taylor & Francis Group, 2020
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Editorial: CRC Press, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2020
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Privacy Vulnerabilities and Data Security Challenges in the Iot
Agarwal, Shivani (Editor)/ Makkar, Sandhya (Editor)/ Tran, Duc-tan (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Pr I Llc, 2020
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 219 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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EUR 97,12
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
- Tapa dura
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Shivani Agarwal is an Assistant Professor in KIET School of Management at KIET Group of Institutions, Ghaziabad, India. She has earned her PhD from Indian Institute of Technology (IIT, Roorkee) in Management. Prior to… his current role, s.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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