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IONIZING RADIATION EFFECTS IN MOS OXIDES (International Advances in Solid State Electronics and Technology)
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2000
ISBN 10: 9810233264 ISBN 13: 9789810233266
Librería: StainesBook, Weybridge, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 1 de 5 estrellas
EUR 36,49
Envío por EUR 34,64
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 312,51
Envío por EUR 13,83
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 312,50
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 334,75
Envío por EUR 2,27
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 326,60
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 349,54
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 353,13
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Añadir al carritoCondición: New. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Editor(s): Ma, T. P.; Dressendorfer, Paul V. Num Pages: 608 pages, Ill. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 168 x 37. Weight in Grams: 1006. . 1989. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 447,94
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Añadir al carritoCondición: New. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Editor(s): Ma, T. P.; Dressendorfer, Paul V. Num Pages: 608 pages, Ill. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 168 x 37. Weight in Grams: 1006. . 1989. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circ Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 454,33
Envío por EUR 17,32
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. annotated edition. 608 pages. 9.75x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 476,65
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 318,39
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, New York, 1989
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 331,84
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
