Ionizing radiation effects mos (14 resultados)
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Librería: StainesBook, Weybridge, SURRE, Reino UnidoStainesBook
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Librería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de AmericaBetter World Books: West
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Condición: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino UnidoPhatpocket Limited
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Condición: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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- Primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Editor(s): Ma…, T. P.; Dressendorfer, Paul V. Num Pages: 608 pages, Ill. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 168 x 37. Weight in Grams: 1006. . 1989. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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Condición: New. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Editor(s): Ma…, T. P.; Dressendorfer, Paul V. Num Pages: 608 pages, Ill. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 168 x 37. Weight in Grams: 1006. . 1989. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. annotated edition. 608 pages. 9.75x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Buch. Condición: Neu. Neuware - The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits.… Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.
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HRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
- Tapa dura
- Primera edición
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density cir…cuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
