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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: Budget Books, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 10,60
Convertir monedaEUR 3,43 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging Series)
Publicado por CRC Press, Boca Raton, FL, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Idioma: Inglés
Librería: Dorley House Books, Inc., Hagerstown, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 35,34
Convertir monedaEUR 7,42 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,14
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,15
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,15
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,07
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,01
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,08
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 54,73
Convertir monedaEUR 7,49 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,24
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 64,75
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Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,27
Convertir monedaEUR 13,80 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,02
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,82
Convertir monedaEUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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INFLUENCE OF TEMPERATURE ON MICROELECTRONICS AND SYSTEM RELIABILITY
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,28
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,17
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,27
Convertir monedaEUR 14,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 336 pages. 10.00x7.01x0.67 inches. In Stock.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 113,87
Convertir monedaEUR 28,79 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 159,63
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 336 1st Edition.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 168,28
Convertir monedaEUR 17,84 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,24
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 336 400 equations This item is printed on demand.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,44
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