Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)

Libro 4 de 4: Electronic Packaging

Pecht Michael Hakim Edward B. Pecht Michael G. Lall Pradeep

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Editorial: Taylor & Francis Group, 1997
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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