Image processing concepts methodologies de malarvel muthukumaran (15 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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EUR 176,32
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Machine Vision Inspection Systems, Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications (eng)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Condición: new.
Machine Vision Inspection Systems : Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Malarvel, Muthukumaran (EDT); Nayak, Soumya Ranjan (EDT); Panda, Surya Narayan (EDT); Pattnaik, Prasant Kumar (EDT); Muangnak, Nittaya (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
Machine Vision Inspection Systems : Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Malarvel, Muthukumaran (EDT); Nayak, Soumya Ranjan (EDT); Panda, Surya Narayan (EDT); Pattnaik, Prasant Kumar (EDT); Muangnak, Nittaya (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Machine Vision Inspection Systems : Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Malarvel, Muthukumaran (EDT); Nayak, Soumya Ranjan (EDT); Panda, Surya Narayan (EDT); Pattnaik, Prasant Kumar (EDT); Muangnak, Nittaya (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
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EUR 191,27
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
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EUR 213,57
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Condición: New.
Machine Vision Inspection Systems : Image Processing, Concepts, Methodologies, and Applications
Malarvel, Muthukumaran (EDT); Nayak, Soumya Ranjan (EDT); Panda, Surya Narayan (EDT); Pattnaik, Prasant Kumar (EDT); Muangnak, Nittaya (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2020
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. 2020. Volume 1. Hardback. . . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Scrivener, 2020
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 223,99
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Condición: New. In English.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons, 2020
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons, 2020
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Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 254,95
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons, 2020
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 450 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2020
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Condición: New. 2020. Volume 1. Hardback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons, 2020
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- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 450 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons Inc, New York, 2020
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. This edited book brings together leading researchers, academic scientists and research scholars to put forward and share their experiences and research results on all aspects of an inspection system for detection analysis for various machine vision applications. It also provides a premier interdisciplinary platform to present and discuss the most recent innovations, trends, methodology, applications, and concerns as well as practical challenges encountered and solutions adopted in the inspection system in terms of image processing and analytics of machine vision for real and industrial application. Machine vision inspection systems (MVIS) utilized all industrial and non-industrial applications where the execution of their utilities based on the acquisition and processing of images. MVIS can be applicable in industry, governmental, defense, aerospace, remote sensing, medical, and academic/education applications but constraints are different. MVIS entails acceptable accuracy, high reliability, high robustness, and low cost. Image processing is a well-defined transformation between human vision and image digitization, and their techniques are the foremost way to experiment in the MVIS. The digital image technique furnishes improved pictorial information by processing the image data through machine vision perception. Digital image processing has widely been used in MVIS applications and it can be employed to a wide diversity of problems particularly in Non-Destructive testing (NDT), presence/absence detection, defect/fault detection (weld, textile, tiles, wood, etc.,), automated vision test & measurement, pattern matching, optical character recognition & verification (OCR/OCV), barcode reading and traceability, medical diagnosis, weather forecasting, face recognition, defence and space research, etc. This edited book is designed to address various aspects of recent methodologies, concepts and research plan out to the readers for giving more depth insights for perusing research on machine vision using image processing techniques. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. …
