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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
Librería: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Gift inscription by Author to fly leaf. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Inside pages are clean. ; 24.6 X 17.4 X 1.56 centimeters; 264 pages.
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,79
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,88
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,22
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 280,60
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 368,51
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ra.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.
