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High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
Librería: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,15
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Gift inscription by Author to fly leaf. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Inside pages are clean. ; 24.6 X 17.4 X 1.56 centimeters; 264 pages.
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,86
Envío por EUR 2,31
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,37
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 95,88
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 264.
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,22
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 109,69
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,76
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,53
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 110,33
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,23
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 264 pages. 9.69x6.85x0.70 inches. In Stock.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 128,57
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,48
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Añadir al carritoHardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2006
ISBN 10: 0849339286 ISBN 13: 9780849339288
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 239,67
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 296 Index.
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 256,89
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 251,17
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 272,71
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 264,54
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 285,19
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 303,62
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 294,73
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 257,81
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. D. Keith Bowen, Brian K. TannerThe scales involved in modern semiconductor manufacturing and microelectronics continue to plunge downward. Effective and accurate characterization of materials with thicknesses below a few nanometers can be achieved us.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
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Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 285,03
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 323,03
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 311,39
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 346,75
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 296 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 366,57
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 252 pages. 10.25x7.00x0.75 inches. In Stock.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,09
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ra.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2006
ISBN 10: 0849339286 ISBN 13: 9780849339288
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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