Embedded processor based self test (38 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer India, 2009
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: New Age International Publisher, 2009
- Tapa blanda
- Edición internacional
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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EUR 26,36
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Idioma: Inglés
Editorial: New Age International Publisher, 2009
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER INDIA, 2009
- Tapa blanda
- Edición internacional
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EUR 37,72
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
- Tapa dura
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EUR 134,12
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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EUR 161,82
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Humana Dez 2004, 2004
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Buch. Condición: Neu. Neuware -Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques f…ail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit's performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., 2004
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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EUR 179,67
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Hardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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EUR 190,82
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
- Tapa dura
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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EUR 204,29
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hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2004
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Buch. Condición: Neu. Embedded Processor-Based Self-Test | Dimitris Gizopoulos (u. a.) | Buch | Frontiers in Electronic Testing | xv | Englisch | 2004 | Springer US | EAN 9781402027857 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiet…er: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. 236.
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2011
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Embedded Processor-Based Self-Test | Dimitris Gizopoulos (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781441952523 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer New York, Springer US, 2011
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 167,14
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a chal…lenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit's performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 233,09
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Paperback. Condición: Brand New. 232 pages. 9.00x6.00x0.60 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub, 2005
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 216 pages. 9.50x6.50x0.50 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Idioma: Inglés
Editorial: Humana Dez 2004, 2004
- Tapa dura
Librería: Books-by-Floh, Paderborn, AlemaniaBooks-by-Floh
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EUR 203,44
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Buch. Condición: Neu. Neuware -Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques f…ail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit's performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures. 236 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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EUR 126,26
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Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub, 2005
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 174,78
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 216 pages. 9.50x6.50x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2011
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 136,16
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirementsPresents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction… set architectures.
Idioma: Inglés
Editorial: Humana Dez 2004, 2004
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always be…en a challenge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit s performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures. 236 pp. Englisch.
