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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Hamelyn, Madrid, M, España
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Bueno. : Este libro ofrece una visión exhaustiva de los avances recientes en la comprensión de los defectos eléctricamente activos en materiales microelectrónicos, centrándose principalmente en la microelectrónica basada en silicio. La obra pone especial énfasis en aquellos defectos que limitan la calidad, fiabilidad, capacidad de fabricación y respuesta a la radiación de los dispositivos.A través de las perspectivas de destacados teóricos e investigadores, se analizan los defectos en aislantes y semiconductores, así como los mecanismos de fallo relacionados con el hidrógeno. Además, el texto explora materiales semiconductores compuestos para aplicaciones microelectrónicas y examina nueva información obtenida a partir de modelos físicos y de ingeniería, siendo una referencia esencial para ingenieros y científicos del sector. EAN: 9780367386399 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Defects in Microelectronic Materials and Devices Autor: Daniel M. Fleetwood| Sokrates T. Pantelides| Ronald D. Schrimpf Editorial: CRC Press Idioma: en Páginas: 770 Formato: tapa blanda.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
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Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 770 pages. 10.00x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 302,63
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,20
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
