Defects microelectronic materials devices (30 resultados)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel/ Pantolides, Sokrates/ Schrimpf, Ronald D.
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Buch. Condición: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects…that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical th…at engineers.
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectron…ic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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