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Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 5,84
Envío por EUR 16,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1973. Tome 7. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1973. Volume 7. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Idioma: Inglés
Publicado por North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: MB Books, Derbyshire, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,67
Envío por EUR 23,12
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Idioma: Inglés
Publicado por North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,95
Envío por EUR 15,72
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Idioma: Inglés
Publicado por North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Librería: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Reino Unido
Miembro de asociación: PBFA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 9,53
Envío por EUR 34,68
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHard Cover. Condición: Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,39
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 120,27
Envío por EUR 28,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Computed electron micrographs and defect identification.
Publicado por Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
Librería: Antiquariat Löcker, Wien, Austria
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA VDAO
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,00
Envío por EUR 72,50
Se envía de Austria a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
