Characterization testing measurement metrology (29 resultados)
Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
- Tapa blanda
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Condición: New. pp. 192 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. pp. 192.
Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (Editor)/ Singh, Sunpreet (Editor)/ Davim, J. Paulo (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Pr I Llc, 2024
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press 2020-10-23, 2020
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Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
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Editorial: CRC Press, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
Prakash, Chander (Editor)/ Singh, Sunpreet (Editor)/ Davim, J. Paulo (Editor)
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Editorial: CRC Pr I Llc, 2020
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Editorial: CRC Press, 2024
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Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2020
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Dr. Chander Prakash is Associate Professor in the School of Mechanical Engineering, Lovely Professional University, Jalandhar, India. He has received Ph.D in Mechanical Engineering from Panjab University, Ch…andigarh, India. His area of r.
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