Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
atomic force microscopy imaging (24 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (24)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (20)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (1)
- Bueno o Aceptable (2)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (1)
Encuadernación
Más atributos
- Primera edición (1)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (6)
- No impresión bajo demanda (21)
Idioma (1)
Precio
- Cualquier precio
- Menos de EUR 20 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- EUR 20 a EUR 45
- Más de EUR 45
Gastos de envío gratis
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por U.S.A.: Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 24,44
Envío por EUR 5,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. 2nd Edition. REVISED HARDBACK BOOK IN GOOD TO VERY GOOD CONDITION,BOOK IS SLIGHTLY TWISTED.
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, New York, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Don's Book Store, Albuquerque, NM, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,98
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHard Back. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.
-
The World of Nano-Biomechanics. Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy.
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 22,32
Envío por EUR 20,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Wie neu. 304 S.; Ill. Like new. Shrink wrapped. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 765.
-
ATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGING MEASURING AND MANIPULATING SURFACES AT THE ATOMIC SCALE (HB 2016)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,99
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
ATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGING MEASURING AND MANIPULATING SURFACES AT THE ATOMIC SCALE (HB 2016)
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,99
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 8 disponibles
Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
ATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGING MEASURING AND MANIPULATING SURFACES AT THE ATOMIC SCALE (HB 2016)
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 55,00
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy.
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 25,00
Envío por EUR 30,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carrito1st ed. 17 x 23 cm. 304 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,20
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Edición internacionalATOMIC FORCE MICROSCOPY IMAGING MEASURING AND MANIPULATING SURFACES AT THE ATOMIC SCALE (HB 2016)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,13
Envío por EUR 3,46
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 17 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science 2007-11-02, 2007
ISBN 10: 044452777X ISBN 13: 9780444527776
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,63
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
-
Atomic Force Microscopy - Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,74
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurements by Atomic Force Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 144,74
Envío por EUR 14,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 283 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock.
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,13
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, 2007
ISBN 10: 044452777X ISBN 13: 9780444527776
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,19
Envío por EUR 19,98
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,43
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences, 5)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,70
Envío por EUR 6,00
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
Atomic Force Microscopy Imaging Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
Idioma: Inglés
Publicado por Intech, 2016
Librería: Books in my Basket, New Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,84
Envío por EUR 20,00
Se envía de India a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. ISBN:9789535104148.
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces: 5 (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,16
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Series: Oxford Series in Optical & Imaging Sciences. Num Pages: 288 pages, halftones, line drawings, tables. BIC Classification: PDND; PHV. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 161 x 21. Weight in Grams: 667. . 1994. Revised. hardcover. . . . .
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 175,58
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. - Describes the basic mechanical features of proteins, DNA, cell membrane and other biological nanostructures - Explains the basic concepts and mathematics of elementary mechanics needed to understand and perform experimental workAutor/Autorin: Atsu.
-
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces: 5 (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 223,48
Envío por EUR 9,06
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Series: Oxford Series in Optical & Imaging Sciences. Num Pages: 288 pages, halftones, line drawings, tables. BIC Classification: PDND; PHV. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 161 x 21. Weight in Grams: 667. . 1994. Revised. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 250,99
Envío por EUR 14,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 300 pages. 9.02x5.99x0.71 inches. In Stock.
-
Atomic Force Microscopy | Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,45
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Atomic Force Microscopy | Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale | Victor Bellitto | Buch | 270 S. | Englisch | 2012 | IntechOpen | EAN 9789535104148 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
-
Atomic Force Microscopy : Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,55
Envío por EUR 64,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alter or damage the sample and permits a three dimensional investigation of the surface. This book presents a collection of current research from scientists throughout the world that employ atomic force microscopy in their investigations. The technique has become widely accepted and used in obtaining valuable data in a wide variety of fields. It is impressive to see how, in a short time period since its development in 1986, it has proliferated and found many uses throughout manufacturing, research and development.
-
The World of Nano-Biomechanics : Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,99
Envío por EUR 63,08
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - By using nanotechnological methods, we can now poke around protein molecules, genes, membranes, cells and more. Observation of such entities through optical and electron microscopes tempt us to touch and manipulate them. It is now possible to do so, and scientists around the world have started pulling, pushing and cutting small structures at the base of life processes to understand the effect of our hand work.The book describes the physical properties of such life supporting structures from the molecular level with a special emphasis on their designs based on the mechanical strength and flexibility, membrane and other biological nanostructures.
