9789812389404 - radiation effects & soft errors ...(v34): 34 (selected topics in electronics and systems) de r d schrimpf & d m fleetwood (14 resultados)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 153,73
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 156,08
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 165,76
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 166,07
Envío por EUR 6,84Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,34
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 182,17
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 166,36
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 170,46
Envío por EUR 13,97Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 202,85
Envío por EUR 6,00Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 214,21
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy… deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 225,18
Envío por EUR 14,57Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 338 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 209,59
Envío por EUR 75,78Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy… deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 141,85
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused b…y single ionizing particles (single-ev.
Más imágenes- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 147,10
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Buch. Condición: Neu. RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34) | Schrimpf R D | Buch | Gebunden | Englisch | 2004 | World Scientific | EAN 9789812389404 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
