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9789812389404 - RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS ...(V34): 34 (Selected Topics in Electronics and Systems) de R D SCHRIMPF & D M FLEETWOOD (13 resultados)
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects & Soft Errors ...(V34) (Selected Topics in Electronics and Systems)
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 173,69
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects & Soft Errors ...(V34) (Selected Topics in Electronics and Systems)
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES (Selected Topics in Electronics and Systems)
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Pub Co Inc, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-ev.
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RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34)
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34) | Schrimpf R D | Buch | Gebunden | Englisch | 2004 | World Scientific | EAN 9789812389404 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34)
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
