9789811065163 - em material characterization techniques for metamaterials (springerbriefs in electrical and computer engineering) de nair, raveendranath u. u. (17 resultados)

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Nair, Raveendranath U.; Dutta, Maumita; P.S., Mohammed Yazeen; Venu, K. S.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 50,77
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 60,70
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Nair, Raveendranath U.; Dutta, Maumita; P.S., Mohammed Yazeen; Venu, K. S.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 60,34
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,19
Envío por EUR 14,01Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 75,55
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 73.

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Nair, Raveendranath U.; Dutta, Maumita; P.S., Mohammed Yazeen; Venu, K. S.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,18
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Nair, Raveendranath U.; Dutta, Maumita; P.S., Mohammed Yazeen; Venu, K. S.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 65,19
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 73,70
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Em Material Characterization Techniques for Metamaterials
Nair, Raveendranath U./ Dutta, Maumita/ S., Mohammed Yazeen P./ Venu, K. S.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 75,55
Envío por EUR 11,70Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 50 pages. 8.75x6.00x0.25 inches. In Stock.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 91,84
Envío por EUR 9,10Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature Singapore, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 58,39
Envío por EUR 60,71Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents a review of techniques based on waveguide systems, striplines, freespace systems and more, discussing the salient features of each method in detail.Since metamaterials are typically inhomogeneous and anisotropic, the experimental… techniques for electromagnetic (EM) material characterization of metamaterial structures need to tackle several challenges. Furthermore, the modes supported by metamaterial structures are extremely sensitive to external perturbations. As such the measurement fixtures for EM material characterization have to be modified to account for such effects.The book provides a valuable resource for researchers working in the field of metamaterials.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Singapore, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 50,40
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Em Material Characterization Techniques for Metamaterials | Raveendranath U Nair (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2017 | Springer Singapore | EAN 9789811065163 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[do…t]com | Anbieter: preigu.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 46,22
Envío por EUR 4,00Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER NATURE Okt 2017, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 53,49
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents a review of techniques based on waveguide systems, striplines, freespace systems and more, discussing the salient features of each method in detail.Since metamaterials are typically inhomogeneous and anisotropic,…the experimental techniques for electromagnetic (EM) material characterization of metamaterial structures need to tackle several challenges. Furthermore, the modes supported by metamaterial structures are extremely sensitive to external perturbations. As such the measurement fixtures for EM material characterization have to be modified to account for such effects.The book provides a valuable resource for researchers working in the field of metamaterials 50 pp. Englisch.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 75,54
Envío por EUR 7,60Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 73.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 77,58
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 73.

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Raveendranath U. Nair|Maumita Dutta|Mohammed Yazeen P.S.|K. S. Venu
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Singapore, 2017
Serie: Libro 18 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 48,74
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Dr Raveendranath U. Nair is currently Senior Principal Scientist and Head at the Centre for Electromagnetics (CEM), CSIR-National Aerospace Laboratories (CSIR-NAL), Bangalore, India. Dr R U Nair has authored/co-author…ed over 150 research publications inc.