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9789401071345 - Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI: 151 (NATO Science Series E:) (17 resultados)
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Testing and Diagnosis of Vlsi and Ulsi
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI (Paperback or Softback)
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing and Diagnosis of Vlsi and Ulsi
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,46
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI (NATO Science Series E:)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,62
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI (Nato Science Series E:)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,26
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Testing and Diagnosis of Vlsi and Ulsi
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,22
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Testing and Diagnosis of Vlsi and Ulsi
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,79
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,19
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 544.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,02
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 544 pages. 9.25x6.10x1.23 inches. In Stock.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 48,37
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,25
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI | F. Lombardi (u. a.) | Taschenbuch | 544 S. | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9789401071345 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,97
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI' held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the - three months turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 46,22
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 9401071349 ISBN 13: 9789401071345
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI' held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the - three months turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner. 544 pp. Englisch.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 544 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 83,58
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 544.
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Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 9401071349 ISBN 13: 9789401071345
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI' held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the ¿ three months turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch.
