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9789400736870 - Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits: 46 (Lecture Notes in Electrical Engineering) de Singhee, Amith; Rutenbar, Rob A. (12 resultados)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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EUR 151,03
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2009 edition. 210 pages. 9.25x6.10x0.48 inches. In Stock.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits | Amith Singhee (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400736870 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 184,68
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Mrz 2012, 2012
ISBN 10: 9400736878 ISBN 13: 9789400736870
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime. 212 pp. Englisch.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents flexible and general techniques for statistical analysis that can be applied to wide variety of circuit applicationsApplies theory from a wide variety of scientific fields (machine learning, computational finance, number theory, actuarial.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 147,08
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 212 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Mär 2012, 2012
ISBN 10: 9400736878 ISBN 13: 9789400736870
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 212 pp. Englisch.
