9789048132812 - models in hardware testing: lecture notes of the forum in honor of christian landrault: 43 (frontiers in electronic testing, 43) (10 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature B.V., 2009
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introd…uced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS techn…ology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, 2009
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Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including memo…ry and low power aspects.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2009
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