Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault: 43 (Frontiers in Electronic Testing) - Tapa dura
Libro 22 de 36: Frontiers in Electronic Testing
Sinopsis
Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
De la contraportada
Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Models in Hardware Testing treats models and especially fault models in hardware testing in a comprehensive way not found anywhere else. Engineers who are responsible for product quality and test coverage, students who want to learn about quality assessment for new technologies or lecturers who are interested in the most recent advances in model based hardware testing will take benefits from reading.
The material collected in Models in Hardware Testing was prepared for the forum in honor of Christian Landrault in connection with the European Test Symposium 2009.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Resultados de la búsqueda para Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum...
Imagen de archivo
MODELS IN HARDWARE TESTING: LECTURE NOTES OF THE FORUM IN HONOR OF CHRISTIAN LANDRAULT
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service. Nº de ref. del artículo: ABEOCT25-283996
Comprar nuevo
EUR 86,54
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: ABLIING23Apr0316110335403
Comprar nuevo
EUR 101,20
Envío por EUR 3,37
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 272. Nº de ref. del artículo: 261401324
Comprar nuevo
EUR 105,75
Envío por EUR 3,37
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 272 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam. Nº de ref. del artículo: 6479411
Comprar nuevo
EUR 105,38
Envío por EUR 7,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. In. Nº de ref. del artículo: ria9789048132812_new
Comprar nuevo
EUR 111,69
Envío por EUR 13,78
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Publicado por
SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
ISBN 10: 9048132819
ISBN 13: 9789048132812
Nuevo
Tapa dura
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9789048132812
Comprar nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen del vendedor
Models in Hardware Testing
Impresión bajo demandaLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including memory and low power aspects. Nº de ref. del artículo: 5817657
Comprar nuevo
EUR 93,00
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing
Impresión bajo demandaLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 272. Nº de ref. del artículo: 181401318
Comprar nuevo
EUR 134,66
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 4 disponibles
Imagen del vendedor
Models in Hardware Testing : Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. Nº de ref. del artículo: 9789048132812
Comprar nuevo
EUR 112,94
Envío por EUR 62,73
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book. Nº de ref. del artículo: ERICA75890481328196
Comprar usado
EUR 187,14
Envío por EUR 28,75
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles