Isbn: 9789048123599 - test pattern generation using boolean proof engines (12 resultados)

Test Pattern Generation Using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglu, Stephan; Fey, Gorschwin; Tille, Daniel
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 126,99
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Test Pattern Generation Using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglu, Stephan; Fey, Gorschwin; Tille, Daniel
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 134,76
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 129,79
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

- Tapa dura
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 157,65
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 208.

- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 122,94
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.…

- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado
EUR 73,35
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 9 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | After producing a chip, the functional correctness of the integrated circuit has to be checked. Otherwise products with malfunctions would be delivered to customers, which is not acceptable for any company. Many algorithms for "Automatic Test Pattern Generation" (ATPG) have been proposed in the last 30 years. But due to the ever increasing design complexity, new techniques have to be developed that can cope with today's circuits. While classical approaches are based on backtracking on the circuit structure, several approaches based on "Boolean Satisfiability" (SAT) have been proposed since the early 80s. In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work. …

- Tapa dura
- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasEdición internacionalCondición: Nuevo
EUR 233,13
Envío por EUR 3,52Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.…

- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 86,24
Envío por EUR 5,50Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work. 192 pp. Englisch.…

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Rolf Drechsler|Stephan Eggersglüß|Görschwin Fey|Daniel Tille
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 93,00
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The first book giving a detailed overview on SAT-based ATPGAll techniques are validated on industrial designsA comprehensive introduction to Boolean Satisfiability1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 .…

- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 164,83
Envío por EUR 7,68Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 208 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 164,86
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 208.