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9783642627729 - Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology) (11 resultados)
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Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 286,50
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
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Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 457 pages. 9.25x6.10x1.08 inches. In Stock.
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Noncontact Atomic Force Microscopy (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642627722 ISBN 13: 9783642627729
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,07
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book is a top state-of-the-art report on all the methods in noncontact atomic force microscopy prepared by the leading experts in the fieldSince 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanome.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Okt 2012, 2012
ISBN 10: 3642627722 ISBN 13: 9783642627729
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 239,68
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues. 460 pp. Englisch.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2012, 2012
ISBN 10: 3642627722 ISBN 13: 9783642627729
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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EUR 213,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 460 pp. Englisch.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 460.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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