ISBN: 9783642420238 - vlsi design and test: 17th international symposium, vdat 2013, jaipur, india, july 27-30, 2013, proceedings: 382 (communications in computer and information science) (16 resultados)
Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Gaur, Singh Manoj (EDT); Zwolinski, Mark (EDT); Laxmi, Vijay (EDT); Boolchandani, D. (EDT); Sing, Virendra (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 53,95
Envío por EUR 2,38Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Gaur, Singh Manoj (EDT); Zwolinski, Mark (EDT); Laxmi, Vijay (EDT); Boolchandani, D. (EDT); Sing, Virendra (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 62,20
Envío por EUR 2,38Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Gaur, Singh Manoj (EDT); Zwolinski, Mark (EDT); Laxmi, Vijay (EDT); Boolchandani, D. (EDT); Sing, Virendra (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 62,03
Envío por EUR 17,95Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 68,96
Envío por EUR 13,41Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Gaur, Singh Manoj (EDT); Zwolinski, Mark (EDT); Laxmi, Vijay (EDT); Boolchandani, D. (EDT); Sing, Virendra (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 68,94
Envío por EUR 17,95Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 90,61
Envío por EUR 3,60Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 406.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 84,03
Envío por EUR 14,96Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 2013 edition. 396 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 66,40
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.…
Más imágenes- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 50,65
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | Manoj Singh Gaur (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642420238 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 46,22
Envío por EUR 6,80Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 58,98
Envío por EUR 7,77Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 20 disponibles
PF. Condición: New. This item is printed on demand. Brand new book, sourced directly from publisher. Dispatch time is 6-7 days from our warehouse. Book will be sent in robust, secure packaging to ensure it reaches you securely.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 53,49
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology. 404 pp. Englisch.…
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 89,79
Envío por EUR 7,78Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 406 246 Illus.
VLSI Design and Test
Gaur, Singh Manoj|Zwolinski, Mark|Laxmi, Vijay|Boolchandani, D.|Sing, Virendra|Singh, Adit
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 48,37
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss.…
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 90,24
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 406.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 53,49
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 404 pp. Englisch.…
