9783642260704 - noncontact atomic force microscopy: volume 2 (nanoscience and technology) (12 resultados)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Noncontact Atomic Force Microscopy | Volume 2 | Seizo Morita (u. a.) | Taschenbuch | NanoScience and Technology | xviii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783642260704 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot…]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with…atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.
Noncontact Atomic Force Microscopy: Vol 2
Morita, Seizo (Editor)/ Giessibl, Franz J. (Editor)/ Wiesendanger, Roland (Editor)
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Most advanced state-of-the-art report on scanning probe microscopyPresents the latest developments in STM and AFMDeals with the various classes of materials studiedA valuable reference work for researchers as well as…a study text for.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent result…s obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology. 420 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Mär 2012, 2012
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results ob…tained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 420 pp. Englisch.
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