9783642035340 - scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology (14 resultados)
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 956 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 956 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Gebunden. Condición: New. Scientific reviews on scanning tunneling microscopy and atomic force microscopyIntegrates basic scientific and applicational aspectsWith a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph GerberUseful reference to research.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy…techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber.
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Hardcover. Condición: gut. 2010. Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology In deutscher Sprache. pages.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning p…robe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber 956 pp. Englisch.
