Isbn: 9783322831040 - ion tracks and microtechnology: principles and applications (14 resultados)

ISBN
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (14)

  • Nuevo (14)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg 1990-01-01, 1990

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 57,39

    Envío por EUR 18,06 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 10 disponibles

    Paperback. Condición: New.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 67,17

    Envío por EUR 13,16 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. In English.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 69,02

    Envío por EUR 9,50 
    Se envía de Irlanda a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 15 disponibles

    Condición: New. 2012. Paperback. . . . . .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Walter de Gruyter, Incorporated, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 78,99

    Envío por EUR 3,49 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. pp. 288.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 80,04

    Envío por EUR 11,66 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Paperback. Condición: Brand New. 284 pages. German language. 9.60x6.60x0.60 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 86,46

    Envío por EUR 9,17 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 15 disponibles

    Condición: New. 2012. Paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 53,49

    Envío por EUR 62,51 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The penetration of heavy charged particles through matter has been the subject of investigations since the early days of Bohr's atomic model. Much later it was found that the resulting traces have dimensions close to the atomic scale and can be revealed in the form of fme patterns. Quite recently, this characteristic attracts applications in micro electronics and -mechanics, biology and medicine, surface and membrane technology, magneto-optics and low temperature physics - applications which require a high subtlety of geometric control on a microscopic scale. Progress in advanced technologies depends crucially on the refinement of the available tools. On the road into the submicron regime, customary lithographies using visible and ultraviolet light, x rays, and electrons are steadily nearing their physical limits. A central point in the search for better tools is the improvement of irradiation technology. Ions have a well-defined range of penetration, a high local confmement of the deposited energy and can be generated conveniently in great quantity. The generated dam age zones can be stored indefmitely in many insulators and be used to initiate a phase transformation process that changes, removes, or collects material along the latent tracks. Up to now the most common development process is track etching, which acts as a chemical amplifier that dissolves the damaged zone of the latent tracks preferentially and creates etch pits or channels that can be extremely fine, starting around 10 nm and in creasing .linearly with the etching time.

  • Más imágenes

    Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg & Teubner, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 49,85

    Envío por EUR 70,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 5 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Ion Tracks and Microtechnology | Principles and Applications | Reimar Spohr | Taschenbuch | x | Englisch | 2012 | Vieweg & Teubner | EAN 9783322831040 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Vieweg in Springer Science + Business Media, Abraham-Lincoln-Str. 46, 65189 Wiesbaden, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 46,22

    Envío por EUR 5,50 
    Se envía de Italia a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag Jan 2012, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 53,49

    Envío por EUR 23,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The penetration of heavy charged particles through matter has been the subject of investigations since the early days of Bohr's atomic model. Much later it was found that the resulting traces have dimensions close to the atomic scale and can be revealed in the form of fme patterns. Quite recently, this characteristic attracts applications in micro electronics and -mechanics, biology and medicine, surface and membrane technology, magneto-optics and low temperature physics - applications which require a high subtlety of geometric control on a microscopic scale. Progress in advanced technologies depends crucially on the refinement of the available tools. On the road into the submicron regime, customary lithographies using visible and ultraviolet light, x rays, and electrons are steadily nearing their physical limits. A central point in the search for better tools is the improvement of irradiation technology. Ions have a well-defined range of penetration, a high local confmement of the deposited energy and can be generated conveniently in great quantity. The generated dam age zones can be stored indefmitely in many insulators and be used to initiate a phase transformation process that changes, removes, or collects material along the latent tracks. Up to now the most common development process is track etching, which acts as a chemical amplifier that dissolves the damaged zone of the latent tracks preferentially and creates etch pits or channels that can be extremely fine, starting around 10 nm and in creasing .linearly with the etching time. 288 pp. Englisch.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Walter de Gruyter, Incorporated, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 77,60

    Envío por EUR 7,58 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. Print on Demand pp. 288 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Walter de Gruyter, Incorporated, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 78,46

    Envío por EUR 9,95 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 288.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 47,23

    Envío por EUR 48,99 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. I Principles of track creation.- 1 Irradiation technology.- 1.1 Radioactive sources.- 1.1.1 Nuclear reactors.- 1.1.2 Alpha and fission sources.- 1.2 Ion accelerators.- 1.2.1 Characteristic parameters of accelerators.- 1.2.2 Production of highly charged heav.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Vieweg+Teubner Verlag, Vieweg+Teubner Verlag Jan 2012, 2012

    3322831043 / 9783322831040

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 53,49

    Envío por EUR 60,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -I Principles of track creation.- 1 Irradiation technology.- 2 Energy-loss phenomena.- 3 Formation of the latent track.- 4 Development of ion tracks.- 5 Observation of ion tracks.- 6 Resulting structures.- II Track applications.- 7 Single-ion tracks.- 8 Multiple ion tracks.- 9 Bulk properties.- 10 Growth areas.- Concluding remarks.- Definitions and units.- List of symbols.Vieweg+Teubner Verlag, Abraham-Lincoln-Straße 46, 65189 Wiesbaden 288 pp. Englisch.