9783319951379 - spectroscopic ellipsometry for photovoltaics: volume 2: applications and optical data of solar cell materials: 214 (springer series in optical sciences, 214) (14 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Cham, Springer, 2018
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of compl…ex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.
Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Fujiwara, Hiroyuki (Edited by)/ Collins, Robert W. (Edited by)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the ellipsometry characterization of solar cell materials/devices Provides easy-to-follow explanations of ellipsometry data analysis Includes optical constants for all solar cell component l…ayers .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing Jan 2019, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct a…nalyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses. 640 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Palgrave Macmillan Jan 2019, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analy…ses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 640 pp. Englisch.
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Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 211 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2019
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