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9783319951379 - Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials: 214 (Springer Series in Optical Sciences, 214) (13 resultados)
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![Imagen de archivo de Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W. a la venta por SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783319951379-es-300.jpg)
Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W.
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: SpringBooks, Berlin, Alemania
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics. Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials.
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214)
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics : Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214)
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 317,77
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics (eng)
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the ellipsometry characterization of solar cell materials/devices Provides easy-to-follow explanations of ellipsometry data analysis Includes optical constants for all solar cell component layers .
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses. 640 pp. Englisch.
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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EUR 295,39
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Palgrave Macmillan Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 640 pp. Englisch.
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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EUR 299,42
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