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9783319749884 - Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies: 266 (Springer Series in Materials Science, 266) (17 resultados)
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies: 266 (Springer Series in Materials Science, 266)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: BoundlessBookstore, Wallingford, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies (Springer Series in Materials Science, 266)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: StainesBook, Weybridge, SURRE, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies (Springer Series in Materials Science, 266)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319749889 ISBN 13: 9783319749884
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies: 266 (Springer Series in Materials Science)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies (Springer Series in Materials Science, 266)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces (eng)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Apr 2018, 2018
ISBN 10: 3319749889 ISBN 13: 9783319749884
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book summarizes the most recent and compelling experimental results for complex oxide interfaces. The results of this book were obtained with the cutting-edge photoemission technique at highest energy resolution. Due to their fascinating properties for new-generation electronic devices and the challenge of investigating buried regions, the book chiefly focuses on complex oxide interfaces. The crucial feature of exploring buried interfaces is the use of soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) operating on the energy range of a few hundred eV to increase the photoelectron mean free path, enabling the photons to penetrate through the top layers - in contrast to conventional ultraviolet (UV)-ARPES techniques. The results presented here, achieved by different research groups around the world, are summarized in a clearly structured way and discussed in comparison with other photoemission spectroscopy techniques and other oxide materials. They are complemented and supported by the most recent theoretical calculations as well as results of complementary experimental techniques including electron transport and inelastic resonant X-ray scattering. 336 pp. Englisch.
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing Apr 2018, 2018
ISBN 10: 3319749889 ISBN 13: 9783319749884
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book summarizes the most recent and compelling experimental results for complex oxide interfaces. The results of this book were obtained with the cutting-edge photoemission technique at highest energy resolution. Due to their fascinating properties for new-generation electronic devices and the challenge of investigating buried regions, the book chiefly focuses on complex oxide interfaces.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 336 pp. Englisch.
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book summarizes the most recent and compelling experimental results for complex oxide interfaces. The results of this book were obtained with the cutting-edge photoemission technique at highest energy resolution. Due to their fascinating properties for new-generation electronic devices and the challenge of investigating buried regions, the book chiefly focuses on complex oxide interfaces. The crucial feature of exploring buried interfaces is the use of soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) operating on the energy range of a few hundred eV to increase the photoelectron mean free path, enabling the photons to penetrate through the top layers - in contrast to conventional ultraviolet (UV)-ARPES techniques. The results presented here, achieved by different research groups around the world, are summarized in a clearly structured way and discussed in comparison with other photoemission spectroscopy techniques and other oxide materials. They are complemented and supported by the most recent theoretical calculations as well as results of complementary experimental techniques including electron transport and inelastic resonant X-ray scattering.
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies: 266 (Springer Series in Materials Science)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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EUR 259,40
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Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces: Photoemission and Related Spectroscopies: 266 (Springer Series in Materials Science)
Libro 180 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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