9781475782912 - design for at-speed test, diagnosis and measurement: 15 (frontiers in electronic testing) (16 resultados)
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Editorial: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 de 40. Libro 37 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editorial: Springer 2013
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Editorial: Springer 2013
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Editorial: Springer US 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475782912 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: prei…gu.
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Editorial: Springer US, Springer New York 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at t…he board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level… as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at th…e silicon level as well as a.
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Editorial: Springer US, Springer New York Apr 2013 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as…well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 260 pp. Englisch.
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