9781441945136 - emerging nanotechnologies: test, defect tolerance, and reliability: 37 (frontiers in electronic testing) (10 resultados)

ISBN

Filtrar la búsqueda

  • Libros (10)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 191,29

      Envío por EUR 2,27 
      Se envía dentro de Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 15 disponibles

      Condición: New.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer US, Springer US 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 168,73

      Envío por EUR 63,17 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 1 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 225,15

      Envío por EUR 13,85 
      Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

      Condición: New. In.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2007

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: Revaluation Books, Exeter, , Reino UnidoRevaluation Books

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 234,62

      Envío por EUR 14,45 
      Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 2 disponibles

      Paperback. Condición: Brand New. 420 pages. 9.09x6.10x0.98 inches. In Stock.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

      Vendedor de 4 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Usado - Como Nuevo

      EUR 259,65

      Envío por EUR 28,91 
      Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 1 disponibles

      Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda

      Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Usado - Como Nuevo

      EUR 294,65

      Envío por EUR 2,27 
      Se envía dentro de Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 15 disponibles

      Condición: As New. Unread book in perfect condition.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda
      • Impresión bajo demanda

      Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand

      Vendedor de 3 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 126,26

      Envío por EUR 6,80 
      Se envía de Italia a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

      Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer US, Springer US Nov 2010 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda
      • Impresión bajo demanda

      Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, , AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 160,49

      Envío por EUR 23,00 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 2 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer US 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda
      • Impresión bajo demanda

      Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 136,16

      Envío por EUR 48,99 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

      Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers various technologies that have been suggested by researchers over the last decadesIncludes technologies such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), nanowires and

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer US, Springer US Nov 2010 2010

      144194513X / 9781441945136

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 19 de 40. Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Tapa blanda
      • Impresión bajo demanda

      Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 160,49

      Envío por EUR 60,00 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 1 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), a