Isbn: 9781441945136 - emerging nanotechnologies: test, defect tolerance, and reliability: 37 (frontiers in electronic testing) (8 resultados)

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    144194513X / 9781441945136

    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2007

    144194513X / 9781441945136

    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Editorial: Springer, 2010

    144194513X / 9781441945136

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    Editorial: Springer, 2010

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    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Editorial: Springer, 2010

    144194513X / 9781441945136

    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field. 420 pp. Englisch. …

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    Editorial: Springer US, 2010

    144194513X / 9781441945136

    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers various technologies that have been suggested by researchers over the last decadesIncludes technologies such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), nanowires and carbon nanotubesDiscus.…

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    Editorial: Springer US, Springer US Nov 2010, 2010

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    Serie: Libro 19 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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