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Integrated Circuit Authentication: Hardware Trojans And Counterfeit Detection
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,81
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Introduction to Hardware Security and Trust
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,06
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Emerging Nanotechnologies , Vol. 37
Libro 19 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Emerging Nanotechnologies , Vol. 37
Libro 19 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,43
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,54
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,86
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Counterfeit Integrated Circuits: Detection and Avoidance
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,48
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,86
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 121,03
Envío por EUR 17,39
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Introduction to Hardware Security and Trust
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,88
Envío por EUR 13,89
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,16
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Introduction to Hardware Security and Trust
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,36
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Integrated Circuit Authentication: Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,11
Envío por EUR 13,89
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Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,33
Envío por EUR 17,39
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Integrated Circuit Authentication: Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 153,93
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 222.
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Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,24
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,41
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 300 pages. 9.25x6.10x0.68 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,85
Envío por EUR 3,50
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,34
Envío por EUR 13,89
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Counterfeit Integrated Circuits: Detection and Avoidance
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,34
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,36
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Integrated Circuit Authentication | Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,70
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Integrated Circuit Authentication | Hardware Trojans and Counterfeit Detection | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319374987 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,74
Envío por EUR 14,49
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 281 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Introduction to Hardware Security and Trust
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 169,73
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 436.
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Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319374982 ISBN 13: 9783319374987
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,99
Envío por EUR 62,07
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes techniques to verify the authenticity of integrated circuits (ICs). It focuses on hardware Trojan detection and prevention and counterfeit detection and prevention. The authors discuss a variety of detection schemes and design methodologies for improving Trojan detection techniques, as well as various attempts at developing hardware Trojans in IP cores and ICs. While describing existing Trojan detection methods, the authors also analyze their effectiveness in disclosing various types of Trojans, and demonstrate several architecture-level solutions.
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Introduction to Hardware Security and Trust
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,57
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,10
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489989529 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,53
Envío por EUR 62,59
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability (Frontiers in Electronic Testing, 37)
Libro 19 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,57
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
